平行平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。

　　平行平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测平晶量工具量面的研合性和平面度的常用工具。

　　适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

　　平行平晶具有高精度的平面性和平行性。

　　平行平晶用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共分四个系列，每个系列各分六组，每组四块。

　　平行平晶技术要求：